分析装置及电子设备

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分析装置及电子设备

时间:2019-11-26本站浏览次数:448

       

分析装置及电子设备

分析装置及电子设备。具备电场增强元件,包括金属层、透光层及多个金属粒子;光源及检测器,金属粒子配置满足P1<P2≤Q+P1[P1是第一节距,P2是第二节距,金属粒子列上激发的局域型等离子体角频率为ω、构成金属层的金属介电常数为ε(ω)、金属粒子周边介电常数为ε、真空中光速为c、为激发光照射角的金属层厚度方向的倾斜角为θ,Q是满足(ω/c)·{ε·ε(ω)/(ε+ε(ω))} 1/2 =ε 1/2 ·(ω/c)·sinθ+2aπ/Q(a=±1,±2,…)的衍射光栅节距],透光层厚度设为G、透光层有效折射率设为n eff 、激发光波长设为λ i 时,满足20<G·(n eff /1.46)≤160·(λ i /785)。

专利文献

在色散关系的曲线图上,在金属的SPP的色散曲线(上述式(A))与衍射光的直线(上述式(B))具有交点的情况下,激发传播型表面等离子体。即,当KSPP=K的关系成立时,在金属层10上激发传播型表面等离子体。

专利文献1:日本专利特表2007-538264号公报

另一方面,将是激发光的照射角且从金属层10或透光层20的厚度方向,或者金属粒子30的高度方向起算的倾斜角设为θ,通过了具有间隔Q的、假想的衍射光栅的激发光的波数K能够由式(B)表示,

图5是示意性说明在透光层20由折射率n的单一层构成的情况下的激发光的光路的图。参照图5,在透光层20由折射率n的单一层构成的情况、且激发光从n0的折射率的相以相对于透光层20的法线方向(厚度方向)倾斜角θ0的角度倾斜射入透光层20的情况下,根据斯涅尔定律,以满足n0·sinθ0=n·sinθ的关系的、相对于透光层20的法线方向的倾斜角θ而在透光层20内产生激发光的折射光(式中“·”是指乘积)。

图2是俯视观察实施方式所涉及的电场增强元件的主要部分的示意图。

所述电场增强元件的所述金属粒子的配置满足下述式(1)的关系:

本发明所涉及的一种方式的分析装置具备:

将所述第m透光层的厚度设为Gm、

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